MSP-100B-W镜片反射率测定仪

MSP-100B-W近红外显微分光测定仪

从350nm~1700nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定

适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统

 

MSP-100B-W镜片反射率测定仪可测量当前分光仪无法测量的微小、薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉。

MSP-100B-W近红外显微分光测定仪的特点：

◆消除背面反射光
MSP-100B-W系列近红外镜片反射率测定仪可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此十分适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

◆测量CCD采用高灵敏度传感器
可见采用了背照式CCD传感器，有较高的灵敏度和信噪比
红外采用了InGaAs传感器，对红外有较高的灵敏度